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技術(shù)文章
  • 2021

    7-6

    OPTON微觀世界|掃描電鏡在接箍表面處理膜層分析中的應(yīng)用

    中國(guó)石油鉆井目前最深8588米,創(chuàng)亞洲陸上鉆井最深記錄。油套管的管串長(zhǎng)度幾乎等于鉆井的深度,其管串一般采用螺紋連接方式,螺紋包括兩部分:管端外螺紋(公扣端)和接箍?jī)?nèi)螺紋(母扣端),接箍是一段外徑比管體稍大的短管,是螺紋連接最重要的工件,兩個(gè)管端公扣端用一個(gè)接箍連接起來(lái)。目前國(guó)內(nèi)一般對(duì)管端公扣端不進(jìn)行表面處理,僅對(duì)接箍母扣端進(jìn)行表面處理。螺紋擰接粘扣是較常見(jiàn)的損傷失效形式,大大縮短了油套管的使用壽命,增加了油井作業(yè)量并影響油井的生產(chǎn),給油田帶來(lái)巨大損失,因此螺紋的質(zhì)量、尤其是接...
  • 2021

    6-28

    鎢燈絲掃描電鏡的作用原理和保養(yǎng)措施

    鎢燈絲掃描電鏡通過(guò)對(duì)電子槍內(nèi)的鎢燈絲加高電壓,使電子槍處于熱激發(fā)狀態(tài),在陽(yáng)極作用下,處于熱激發(fā)的電子槍就可以激發(fā)出電子束。經(jīng)過(guò)掃描線圈磁場(chǎng)的控制,電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描,激發(fā)出二次電子、背散射電子等物理信號(hào),經(jīng)探測(cè)器收集、放大器放大后,調(diào)制得圖像。鎢燈絲掃描電鏡總發(fā)射電流和束斑都較大,抗干擾能力和穩(wěn)定性都較好,低真空下可以對(duì)不導(dǎo)電樣品無(wú)荷電成像,可用于形貌觀察、顯微結(jié)構(gòu)分析、斷口形貌分析,在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)、化工、物理、電子、生物、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的用途...
  • 2021

    6-25

    賽默飛掃描電鏡的功能特點(diǎn),快來(lái)了解一下吧!

    賽默飛掃描電鏡結(jié)合了全面的成像性能和*的環(huán)境模式,同時(shí)兼容廣泛的硬件和軟件選型,可滿足多用戶實(shí)驗(yàn)室的綜合應(yīng)用需求。支持掃描預(yù)設(shè)、便捷的相機(jī)導(dǎo)航更進(jìn)一步提升了生產(chǎn)力、數(shù)據(jù)質(zhì)量和易用性。多種檢測(cè)器選項(xiàng)的定向背散射探測(cè)器、STEM、陰極熒光探測(cè)器等功能,探測(cè)器信號(hào)同步采集和顯示,可以在最短的時(shí)間內(nèi)提供答案。此外,ESEM可以在現(xiàn)實(shí)條件下對(duì)樣品進(jìn)行原位研究,例如在濕潤(rùn)、高溫、潮濕或反應(yīng)性環(huán)境中的樣品觀察賽默飛掃描電鏡有三種真空模式,使得系統(tǒng)靈活性*,可以容納任何SEM可用的*泛的樣品...
  • 2021

    6-23

    賽默飛電子顯微鏡的相關(guān)介紹,你確定不了解一下嗎?

    賽默飛掃描電鏡由電子槍發(fā)射出來(lái)的電子束,在加速電壓的作用下,經(jīng)過(guò)磁透鏡系統(tǒng)匯聚,經(jīng)過(guò)二至三個(gè)電磁透鏡所組成的電子光學(xué)系統(tǒng),電子束會(huì)聚成一個(gè)細(xì)的電子束聚焦在樣品表面。在末級(jí)透鏡上邊裝有掃描線圈,在它的作用下使電子束在樣品表面掃描。賽默飛掃描電鏡由于高能電子束與樣品物質(zhì)的交互作用,結(jié)果產(chǎn)生了各種信息:二次電子、背反射電子、吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光和透射電子等。這些信號(hào)被相應(yīng)的接收器接收,經(jīng)放大后送到顯像管的柵極上,調(diào)制顯像管的亮度。由于經(jīng)過(guò)掃描線圈上的電流是與顯像管相...
  • 2021

    6-21

    掃描電鏡顯微鏡的組成及應(yīng)用

    在材料領(lǐng)域中,掃描電鏡顯微鏡發(fā)揮著極其重要的作用,被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過(guò)程,可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界,也可以觀察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式,還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。掃描電鏡顯微鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分。鏡體部分由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣系統(tǒng)組成。電子光學(xué)系統(tǒng):由電子槍,電磁透鏡,掃描線圈和樣品...
  • 2021

    6-21

    掃描電鏡在微電子技術(shù)中的應(yīng)用

    掃描電鏡與一般光學(xué)顯微鏡相比,具有以下特點(diǎn):焦深大,視場(chǎng)調(diào)節(jié)范圍寬、圖象立體感強(qiáng),分辨率高以及通過(guò)收集電子束與樣品作用而得到樣品材料結(jié)構(gòu)和物理特性的信息。這些特點(diǎn)對(duì)于分析微電子材料和器件來(lái)說(shuō)具有更為突出的效用,因而它在微電子材料和器件分析中的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。本文主要介紹掃描電鏡在微電子技術(shù)中應(yīng)用。(1)質(zhì)量監(jiān)控與工藝診斷硅片表面沾污常常是影響微電子器件生產(chǎn)質(zhì)量的嚴(yán)重問(wèn)題,為了查清沾污的種類、來(lái)源,以清除沾污,就必須對(duì)沾污物進(jìn)行檢查和鑒定。硅片沾污物種類繁多,有太氣中灰塵、加工...
  • 2021

    6-15

    透射電鏡的組成結(jié)構(gòu)分幾部分?

    1、電子光學(xué)部分整個(gè)電子光學(xué)部分*置于鏡筒之內(nèi),自上而下順序排列著電子槍、聚光鏡、樣品室、物鏡、中間鏡、投影鏡、觀察室、熒光屏、照相機(jī)構(gòu)等裝置。根據(jù)這些裝置的功能不同又可將電子光學(xué)部分分為照明系統(tǒng)、樣品室、成像系統(tǒng)及圖像觀察和記錄系統(tǒng)。(1)照明系統(tǒng)照明系統(tǒng)由電子槍、聚光鏡和相應(yīng)的平移對(duì)中及傾斜調(diào)節(jié)裝置組成。它的作用是為成像系統(tǒng)提供一束亮度高、相干性好的照明光源。為滿足暗場(chǎng)成像的需要照明電子束可在2-3度范圍內(nèi)傾斜。①電子槍它由陰極、柵極和陽(yáng)極構(gòu)成。在真空中通電加熱后使從陰極...
  • 2021

    6-11

    環(huán)境對(duì)臺(tái)式掃描電鏡產(chǎn)生的影響有哪些?

    想必臺(tái)式掃描電鏡使用者都知道,臺(tái)式掃描電鏡日常的維護(hù)保養(yǎng)十分關(guān)鍵,無(wú)論儀器設(shè)備是在運(yùn)行情況還是非運(yùn)行情況,都對(duì)周邊的環(huán)境有嚴(yán)苛的規(guī)定。這類環(huán)境會(huì)對(duì)臺(tái)式掃描電鏡造成遲緩的影響,假如稍不注意便會(huì)使它的使用期限慢慢減少。因此使用者要看重這個(gè)問(wèn)題,不能讓環(huán)境影響到其精度。本文就環(huán)境對(duì)臺(tái)式掃描電鏡造成的干擾進(jìn)行介紹:1、灰塵的干擾假如導(dǎo)軌、鏡頭和電源等電子元件沾到了過(guò)多浮塵物質(zhì),便會(huì)對(duì)該儀器設(shè)備的精度、成像造成嚴(yán)重干擾,造成測(cè)量效果不精確,而且也會(huì)加速硬件的毀壞,因此一定要定時(shí)清理,注...
  • 2021

    6-8

    掃描電鏡的結(jié)構(gòu)你了解嗎?

    在材料領(lǐng)域中,掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著極其重要的作用,被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過(guò)程,可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界,也可以觀察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式,還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。我們應(yīng)該了解掃描電鏡的結(jié)構(gòu),并在自己的科學(xué)研究中利用好掃描電鏡這個(gè)工具,對(duì)材料進(jìn)行全面細(xì)致的研究。1.鏡筒鏡筒包括電子槍、聚光鏡、物鏡及掃描系統(tǒng)。其作用是產(chǎn)生很細(xì)的...
  • 2021

    3-19

    光學(xué)顯微鏡是怎樣的操作的?讀完下文你就知道了

    與其他精密儀器相比光學(xué)顯微鏡作為材料表征的常規(guī)手段在制藥和精細(xì)化工領(lǐng)域被嚴(yán)重忽視。在樣品制備方面光學(xué)顯微鏡*的扮演著重要的角色,但其在固體性質(zhì)研究方面一樣可以發(fā)揮重要的作用。本文主要目的在于矯正這種失衡同時(shí)旨在說(shuō)明光學(xué)顯微鏡特別是偏光顯微鏡在大部分的材料表征中均應(yīng)占有一席之地。對(duì)偏光顯微鏡的應(yīng)用不應(yīng)僅局限于理解所研究化合物的性質(zhì);其應(yīng)當(dāng)是有機(jī)和無(wú)機(jī)化合物發(fā)現(xiàn)和發(fā)展進(jìn)而對(duì)其有全面了解這一過(guò)程中解決所遇見(jiàn)難題的一個(gè)*的工具。當(dāng)采用多種技術(shù)手段研究化合物的固體性質(zhì)時(shí),偏光顯微鏡可為...
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